目的:探讨大脑外侧裂在MRI横断面图像上的形态学规律及临床意义.方法:采集30名正常成人颅脑连续横断面MRI数据,在e-film 2.1工作站中,采取连续追踪法及3D-Cursor技术准确识别外侧裂,将图像导入Adobe Photoshop CS 8.0软件包中标记外侧裂并观测、统计其形态学特征.结果:外侧裂在Z=-18~33 mm层面范围内出现,随着层面下移依次呈现"一"字型、"Y"型、"T"型、"L"型和"一"字型的变化规律.依据从下向上岛叶在层面上的出现和消失的规律将外侧裂分为三段.第一段,从外侧裂出现到岛叶出现层面;第二段,从岛叶出现到岛叶消失层面;第三段,从岛叶消失到外侧裂消失层面.左右半球三段垂直深度差异均无统计学意义(P>0.05).右侧大脑半球在Z=6~9 mm范围内,左侧大脑半球在Z=9~15 mm范围内大脑外侧裂弯曲折叠,左侧多于右侧.结论:大脑外侧裂MRI横断面图像上的形态学研究,可为外侧裂及相邻脑区病变的识别和定位,经外侧裂行鞍区、岛叶区及基底核区手术入路部位的选择提供解剖学资料.
作者：李成；隋东莉；曹承亮；张浩轩；王震寰
来源：蚌埠医学院学报 2014 年 39卷 2期
